– 提供固定靜態偏置點進行窄脈沖動態IV測量，滿足準等溫
測試條件。
– 實現器件寄生效應的量化測量與數據運算。
– 脈寬*小低至200ns。
– 具有內部和外部同步能力。
– 脈沖時序設置和時域波形記錄。
– 儀器設備可與socket&半自動探針臺互聯，進行封裝以及晶
圓級芯片測試。