用途:用于獲取材料表面的納米級三維形貌結構、納米力學、納米電學性能等。

型號:Dimension Icon、Dimension Edg、

Dimension Edge PSS等

基本參數:

●垂直方向分辨率:<0.1 nm

●水平方向分辨率:<1nm

●Z方向掃描范圍:<10 um

●XY方向掃描范圍:90um X 90um(典型值)

●樣品臺尺寸:210 mm

功能模塊:

●Peak force tapping:峰值力輕敲模式

●Peak force Tuna:表征納米電學

●Peak force ONM:表征納米力學

● Peak force SECM:表征納米電化學

●Peak force KPFM:表征納米表面電勢

技術優勢:

●最先進的XYZ全探針掃描方式和全自動大樣品臺

●獨有的Peak froce Tapping專利技術和智能掃描模式(ScanAsyst)

●最完整的力學、電學、電化學測試功能和最靈活的拓展性